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CPO產品結構持續演進 均英精密FAU客製檢測從抽樣導入量產測試

美通社2026年9月13日 23:30
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均英精密因應CPO產品規格演進,將GTK-OSI1FAU檢測範圍延伸至80通道與特殊結構,量測重複性達3σ ≤ 0.1 μm,並支援客製腳本、治具調整及68個月設備交付,加速客戶產品驗證與量產導入。

桃園2026年9月14日 /美通社/ -- 均英精密持續擴大共同封裝光學(CPO)檢測布局,針對光纖陣列單元(FAU)及其零配件的高精度與客製化檢測需求,已將檢測能力延伸至80通道及特殊規格零組件,並協助客戶將相關檢測導入量產產線,加速新一代光通訊產品驗證與量產進程。

均英精密執行副總兼董事長特助張豪麟表示:「傳統光學被動元件多採用1×M或M×N陣列結構,隨著AI伺服器對光通訊性能要求提升,各大廠正積極開發效能更高的被動元件,檢測也需因應不同設計進行調整。我們也可依據產品設計與檢測項目,提供客製化檢測與實品驗證。」均英已累積多家客戶的光學被動元件檢測驗證實績,包括特殊架構的客製零組件,並完成首批設備出貨。

從標準陣列到特殊結構 GTK-OSI1延伸FAU量產檢測應用

為支援光通訊製造商兼顧現有產品的品質管控與新規格開發,均英精密結合AOI精密量測、自動化控制、AI識別與軟體開發能力,將檢測設備的適用範圍由標準元件延伸至客製設計。其中,GTK-OSI1全自動被動光學元件檢測機針對FA、V-Groove及MT/MMC Ferrule等元件的影像量測重複性可達3σ ≤ 0.1 μm。面對特殊規格與異形結構,均英可透過客製化量測程式腳本,並視需求調整治具,將實品驗證結果轉化為可導入量產的自動化檢測流程。隨著CPO相關產品開發加速,均英可在規格確認後約6至8個月內完成客製化調整與設備交付,協助客戶縮短設備等待時間,加快產品驗證與量產導入。


均英精密將製作CPO的關鍵零組件FAU 自動檢測機GTK-OSI1順利導入產線 量測重複性達3σ ≤ 0.1 μm

拓展光通訊自動化應用 推進CPO測試機台開發

從光學零組件的精密檢測到整合封裝後的性能測試,均英精密將以既有精密加工、量測與自動化設備開發能力為基礎,協助嘉基科技設計開發CPO測試機台,針對光通訊光電整合產品、光引擎(Optical Engine)與FAU整合製成的CPO產品進行性能驗證。透過結合零組件的檢測經驗與封裝後的性能測試需求,均英將拓展光通訊設備的應用範圍,支援客戶從零組件開發到封裝產品驗證的不同需求。

關於均英精密

均英精密自1992年總部設立於台灣桃園,擁有奈米級機械加工技術模具廠、自動化設備開發與射出成形廠。工廠通過ISO 9001認證,為半導體、光學、光通訊、醫療、電子等產業提供關鍵零組件與自動化系統整合解決方案。均英不僅提供OEM/ODM服務,更憑藉深厚產業經驗,長期與跨國企業合作,協助客戶優化全球製程、提升產線良率,持續為合作夥伴實現最高的附加價值。

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